如何通过数学优化提升半导体制造的良率？
在半导体制造的复杂工艺中，良率的提升是关键目标之一，而数学优化，尤其是统计过程控制和机器学习算法，为这一目标提供了强大的工具。通过统计过程控制（SPC），我们可以利用数学模型来监控生产过程中的关键参数，如温度、压力和化学成分等，这些模型能够...
在半导体制造的复杂工艺中，良率的提升是关键目标之一，而数学优化，尤其是统计过程控制和机器学习算法，为这一目标提供了强大的工具。通过统计过程控制（SPC），我们可以利用数学模型来监控生产过程中的关键参数，如温度、压力和化学成分等，这些模型能够...