计算机视觉在半导体缺陷检测中的未来趋势
在半导体制造的精密世界里，每一微小的缺陷都可能成为性能的绊脚石，传统的检测方法虽能捕捉到部分缺陷，但面对复杂多变的缺陷形态和微小的尺寸挑战时，其效率和准确性往往捉襟见肘，而计算机视觉，作为人工智能的重要分支，正逐步成为这一领域的新兴利器。问...
在半导体制造的精密世界里，每一微小的缺陷都可能成为性能的绊脚石，传统的检测方法虽能捕捉到部分缺陷，但面对复杂多变的缺陷形态和微小的尺寸挑战时，其效率和准确性往往捉襟见肘，而计算机视觉，作为人工智能的重要分支，正逐步成为这一领域的新兴利器。问...