如何利用统计物理学优化半导体制造中的缺陷控制？
在半导体制造的精密世界里，每一个微小的缺陷都可能成为性能的绊脚石，而统计物理学，这一研究大量粒子系统行为规律的学科，正为解决这一难题提供了新的视角。问题提出：在半导体制造过程中，如何精确预测并控制由复杂工艺和材料特性引起的随机缺陷？传统方法...
在半导体制造的精密世界里，每一个微小的缺陷都可能成为性能的绊脚石，而统计物理学，这一研究大量粒子系统行为规律的学科，正为解决这一难题提供了新的视角。问题提出：在半导体制造过程中，如何精确预测并控制由复杂工艺和材料特性引起的随机缺陷？传统方法...