如何利用统计物理学优化半导体制造中的缺陷预测？
在半导体制造的复杂工艺中，缺陷预测是一个至关重要的环节，它直接关系到芯片的良率和性能，而统计物理学，作为研究大量粒子系统宏观性质与微观状态之间关系的科学，为这一难题提供了新的视角和工具。一个值得探讨的问题是：如何利用统计物理学的原理和方法，...
半导体制造缺陷预测
深度学习在半导体制造中的暗箱问题，如何透视预测缺陷？
在半导体制造的复杂工艺中，每一个微小的缺陷都可能对最终产品的性能产生巨大影响，传统的检测方法往往依赖于人工目视检查或简单的机器视觉系统，其效率和准确性都受到限制，这时，深度学习技术以其强大的数据处理和模式识别能力，为解决这一“暗箱”问题提供...