如何利用统计学优化半导体制造的良率？
在半导体制造的复杂工艺中，良率（Yield）是衡量生产效率与成本控制的关键指标，而如何精准地预测和提升良率，正是我们面临的挑战之一，统计学，作为一门收集、分析、解释数据的科学，为我们提供了有力的工具。通过收集大量生产数据，我们可以运用统计学...
半导体制造良率优化
如何利用统计学优化半导体制造的良率？
在半导体制造的复杂工艺中，良率是衡量生产效率和产品质量的关键指标，如何通过统计学方法优化这一指标，是每位从业者面临的挑战。我们可以通过收集大量生产数据，运用统计学的描述性分析，了解生产过程中的变异性和趋势，通过直方图和箱线图，我们可以直观地...